ГлавнаяКонтактыКарта сайта
ЕПОС
О компанииКомпьютерная криминалистикаВосстановление информацииЗащита информацииПроизводство и ITСервисНаши разработки

Расследование инцидентов, компьютерная криминалистика, информационная безопасность

Книжная серия Взгляд на жесткий диск изнутри




 Новости


Вернуться к списку новостей

ЕПОС Тестер IDE
   1.  В процессе выполнения всех комплексных тестов и операций для накопителей на жестких магнитных дисках, производится автоматическая регистрация логических адресов (LBA), обнаруженных дефектных (BAD) секторов. Информация о дефектных секторах сохраняется в энергонезависимой памяти прибора одновременно с сохранением результатов выполнения тестов и операций. После загрузки содержимого энергонезависимой памяти в PC (c использованием новой программы TesterIDE.exe) список дефектных секторов может быть сохранен в виде бинарного файла с расширением *.dft в формате, аналогичном формату файлов, экспортируемых программой DEFECTOSCOPE комплекса PC-3000 фирмы ACE Laboratory. Этот файл может импортироваться в специализированные утилиты комплекса PC-3000 для скрытия дефектов жесткого диска без выполнения дополнительных операций по сканированию поверхностей дисков. Кроме того, список дефектов можно просмотреть в специальном окне программы TesterIDE.exe, а также вывести на печать.
   2. Реализованы "горячие" клавиши для быстрой установки и запуска на выполнение теста верификации поверхностей (Verify) в непрерывном циклическом режиме, операций копирования дисков (Copy) и уничтожения данных (Erase Data) для накопителей на жестких магнитных дисках.
   3. При запуске на выполнение комплексных тестов HDD и операций копирования и уничтожения данных автоматически проверяется тракт обмена данными между микроконтроллером прибора и буферной памятью контроллера накопителя, что позволяет своевременно обнаруживать износ сигнальных шлейфов и возможные дефекты узла внешнего интерфейса накопителя. Проверка тракта основана на выполнении теста буфера контроллера накопителя.
   4. Перед установкой режимов работы прибора с накопителями на жестких магнитных дисках (в том числе и при использовании "горячих" клавиш) производится проверка наличия установленного пароля. Если пароль установлен, то на экран дисплея выводится сообщение "Password Detect", а выполнение всех тестов и операций, предусматривающих обращение к секторам накопителей на жестких магнитных дисках, блокируется. В этом режиме для накопителей с жесткими магнитными дисками могут выполняться только тесты контроллера и ремонтный тест Repair 1 (циклическое чтение регистров контроллера накопителя).
   5. При просмотре результатов последнего выполненного (прерванного) теста или операции (режим - View Info) предусмотрен вывод на отображение числа полностью завершенных проходов циклических режимов теста Verify и операции Erase Data.
   6. Повышена стабильность работы прибора при выполнении операции уничтожения данных одновременно на двух накопителях с жесткими магнитными дисками.
   7. Выполнена корректировка подпрограмм тестов накопителей с интерфейсом ATAPI (CD/DVD, MOD) с целью более корректного измерения времени выполнения команд.
   8. В приборах с питанием от внешнего источника, замена элемента питания энергонезависимой памяти производится без вскрытия корпуса. Элемент питания расположен с нижней стороны корпуса под съемной крышкой, закрепленной четырьмя винтами. 
Опубликовано 27.05.2003

Популярные услуги ЕПОС:


Поделиться информацией